2009年11月19日至11月21日，在浙江杭州召开了四届三次全国光学和光子学标准化技术委员会及三届三次显微镜分技术委员会年会会议，会议由《全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）》秘书处承担单位上海理工大学承办。多家科研院所、高校及企业组成的委员单位代表及委员30余人出席了本次会议，中国计量学院作为委员单位，我校光电学院张淑琴老师参加了本次会议。
     会议由《全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）》秘书长、上海理工大学章慧贤高级工程师主持，由中国工程院院士、上海理工大学光电信息与计算机工程学院院长、《全国光学和光子学标准化技术委员会》主任委员庄松林院士向大会致辞，并向各位委员汇报了2008-2009年度ISO/TC172/SC5国际标准化会议情况。庄院士提出，希望各位委员尤其企业委员积极参加国际标准会议，提高我国在国际标准化工作中的水平和地位；章慧贤秘书长做了标委会2009年度工作总结，与会各位委员一起讨论了近期工作及换届事宜。
     会议还审查并通过了《大地测量仪器术语》、《脉冲激光测距仪测距参数的室内测试方法》、《光学仪器用透明导电薄膜规范》、《多光谱减反射膜规范》、《显微镜光学显微术用浸液》、《全站仪》、《显微镜 光谱滤光片》等国家标准送审稿。